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目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响

胡剑虹,宁飞,沈湘衡,贺庚贤

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胡剑虹, 宁飞, 沈湘衡, 贺庚贤. 目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响[J]. , 2010, 3(2): 152-156.
引用本文: 胡剑虹, 宁飞, 沈湘衡, 贺庚贤. 目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响[J]. , 2010, 3(2): 152-156.
HU Jian-hong, NING Fei, SHEN Xiang-heng, HE Geng-xian. Influence of surface emissivity of objects on measuring accuracy of infrared thermal imagers[J]. Chinese Optics, 2010, 3(2): 152-156.
Citation: HU Jian-hong, NING Fei, SHEN Xiang-heng, HE Geng-xian. Influence of surface emissivity of objects on measuring accuracy of infrared thermal imagers[J].Chinese Optics, 2010, 3(2): 152-156.

目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响

详细信息
    通讯作者:

    胡剑虹

Influence of surface emissivity of objects on measuring accuracy of infrared thermal imagers

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    Corresponding author:HU Jian-hong
  • 摘要:介绍了红外热像仪测温原理,分析了影响红外热像仪测温精度的因素,计算了不同表面发射率下红外热像仪的测温误差曲线。理论分析表明,目标表面发射率越高,红外热像仪测温精度越高。实验改变表面发射率的设置,计算了不同表面发射率对应的总辐射亮度,得到TP8型长波红外热像仪能够精确测温时,目标表面发射率必须大于0.5的结果。最后,对表面发射率分别为0.96、0.93和0.3的3种材料进行实际测温,结果表明,材料表面发射率较高时,红外热像仪具有较好的测温精度。

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出版历程
  • 收稿日期:2010-02-14
  • 修回日期:2010-03-13
  • 刊出日期:2010-04-20

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